主持人：李永富老师

主  题：InGaAs(P)/InP雪崩光电二极管器件雪崩过程的辐射复合特性及其可能应用

主要内容：单光子探测用APD器件在雪崩过程中，由于载流子的辐射复合会发出荧光，这是一种间接测量手段，但由于不需要电学探头介入，不会干扰APD工作状态。通过研究APD雪崩过程中的发光现象，可以测量雪崩电荷量，可以测量器件的抖动特性。